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Use este identificador para citar ou linkar para este item: https://repositorio.ufpe.br/handle/123456789/54776

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Campo DCValorIdioma
dc.contributor.advisorPRUDÊNCIO, Ricardo Bastos Cavalcante-
dc.contributor.authorNASCIMENTO, Lidia Perside Gomes-
dc.date.accessioned2024-01-26T12:21:29Z-
dc.date.available2024-01-26T12:21:29Z-
dc.date.issued2023-10-03-
dc.identifier.citationNASCIMENTO, Lidia Perside Gomes. Aprendizagem de máquina na engenharia de software: uma abordagem técnica para análise de defeitos escapados. 2023. Dissertação (Mestrado em Ciência da Computação) – Universidade Federal de Pernambuco, Recife, 2023.pt_BR
dc.identifier.urihttps://repositorio.ufpe.br/handle/123456789/54776-
dc.description.abstractA realização do Testes de Software (TS) é de extrema importância no que diz respeito a garantir a qualidade adequada de um software que esteja em desenvolvimento. Esse processo, quando bem realizado, tem uma série de vantagens como uma boa reputação da empresa de software por parte dos usuários finais e a economia de custos com reparos em defeitos. Quando um defeito é encontrado, normalmente é aberto um relatório de falhas que poderá levar a uma correção no software por parte de desenvolvedores. Nessa dissertação, relatórios de falhas recebem a nomenclatura de Change Requests (CRs), contendo informações que descrevem o problema encontrado no software desde a abertura da CR até a solução da mesma. Grandes empresas, de maneira geral, costumam ter um grande número de CRs abertas semanalmente e que devem passar pela equipe de testes e/ou desenvolvimento para que possam ser inspecionadas e corrigidas de maneira adequada. Este trabalho tem como foco a utilização de técnicas de Aprendizado de Máquina (AM) para automatizar uma tarefa relevante da triagem de CRs, o processo de Escaped Defect Analysis (EDA), no contexto de uma aplicação real da indústria. Nessa aplicação, Defeitos Escapados (DE) são bugs ou problemas que deveriam ter sido detectados por uma equipe de teste específica, mas que, por alguma razão, foram acidentalmente encontradas por uma outra equipe. A ocorrência das DEs é considerada arriscada, tendo em vista que costumam estar relacionadas a falhas nas atividades de testes. O EDA geralmente é realizado de forma manual pela equipe de engenheiros de software, que precisam ler todo o conteúdo textual contido em cada CR para identificar se é um DE ou não, o que passa a ser desafiador e demorado. Na solução aqui abordada, o conteúdo de cada CR é pré-processada por operações textuais e são representadas em forma de atributos para que um classificador de AM venha a retornar a probabilidade dos rótulos de EDA. Os experimentos realizados nesta pesquisa contou com um conjunto de dados de 3767 CRs, que foram fornecidos pela empresa parceira (Motorola Mobility Comércio de Produtos Eletrônicos Ltda). Diferentes tipos de algoritmos de AM foram aplicados para a contrução de classificadores, onde alto valores de AUC puderam ser alcançados (costumeiramente maiores que 0,8), nos experimentos realizados com validação cruzada. Além disso, os experimentos indicam um bom compromisso entre o número de EDs corretamente identificados e o número de CRs que devem ser inspecionados na EDA.pt_BR
dc.description.sponsorshipCAPESpt_BR
dc.language.isoporpt_BR
dc.publisherUniversidade Federal de Pernambucopt_BR
dc.rightsopenAccesspt_BR
dc.rightsAttribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Brazil*
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/br/*
dc.subjectInteligência computacionalpt_BR
dc.subjectAnálise de defeitos escapadospt_BR
dc.subjectChange requestpt_BR
dc.subjectAprendizado de máquinapt_BR
dc.titleAprendizagem de máquina na engenharia de software : uma abordagem técnica para análise de defeitos escapadospt_BR
dc.typemasterThesispt_BR
dc.contributor.authorLatteshttp://lattes.cnpq.br/0248621815801613pt_BR
dc.publisher.initialsUFPEpt_BR
dc.publisher.countryBrasilpt_BR
dc.degree.levelmestradopt_BR
dc.contributor.advisorLatteshttp://lattes.cnpq.br/2984888073123287pt_BR
dc.publisher.programPrograma de Pos Graduacao em Ciencia da Computacaopt_BR
dc.description.abstractxSoftware Testing (TS) phase is of utmost importance to ensure the adequate quality of a software under development. This process, when well-executed, offers several advantages, such as a good reputation of the software company among the end users and cost savings on bug repairs. When an issue is found, normally a bug report document is opened, which can result on fixing the software. In this dissertation, bug reports receive the nomenclature of Change Requests, which stores information describing the software since the CR is opened until it is closed. In general, large companies tend to have a significant number of CRs opened weekly, which must go through the testing and/or development teams for proper inspection and correction. Therefore, this work focuses on the use of Machine Learning (ML) techniques to automate the Escaped Defect Analysis (EDA) process, in the context of a real application. In this study, Escaped Defects (EDs) refer to bugs or issues that should have been detected by a specific testing team but were accidentally discovered by another team. The occurrence of EDs is considered risky as they are often related to testing activity failures. EDA is typically performed manually by software engineers who need to read all the textual content in each CR to determine whether it is an ED or not, making it a challenging and time-consuming task. In the solution presented here, the content of each CR is preprocessed through textual operations and represented as attributes, enabling an ML classifier to return the probability of EDA labels. The experiments in this research used a dataset of 3767 CRs provided by the partner company (Motorola Mobility Comércio de Produtos Eletrônicos Ltda). Various ML algorithms were applied to construct classifiers, where high values of Area Under the Curve (AUC), typically greater than 0.8, were achieved in cross-validation experiments. Additionally, the experiments indicate a good balance between the number of correctly identified EDs and the number of CRs that need to be inspected in EDA.pt_BR
Aparece nas coleções:Dissertações de Mestrado - Ciência da Computação

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