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Campo DC Valor Lengua/Idioma
dc.contributor.authorHernando Vanegas Penagos, Luispt_BR
dc.date.accessioned2014-06-12T18:05:24Z-
dc.date.available2014-06-12T18:05:24Z-
dc.date.issued2005pt_BR
dc.identifier.citationHernando Vanegas Penagos, Luis; . Diagnóstico em modelos simétricos de regressão. 2005. Dissertação (Mestrado). Programa de Pós-Graduação em Estatística, Universidade Federal de Pernambuco, Recife, 2005.pt_BR
dc.identifier.urihttps://repositorio.ufpe.br/handle/123456789/6489-
dc.description.abstractA modelagem estatística sob a suposição de erros normalmente distribuídos pode ser altamente influenciada por observações extremas, o que motiva o estudo de técnicas de regressão mais robustas frente a este tipo de observações. Como uma alternativa, podem ser considerados modelos em que a distribuição assumida para o erro pertence à classe simétrica. Estes modelos são chamados de modelos simétricos de regressão. Neste trabalho, estudamos analiticamente e através de simulações de Monte Carlo as propriedades estatísticas de dois tipos de resíduos propostos: componente desvio e quantal para os modelos simétricos de regressão com componentes sistemáticas não-lineares. Além disso, desenvolvemos métodos de diagnóstico usando o enfoque de influência global. Neste sentido, propomos algumas medidas tais como distância de Cook, estatística W-K, aproximação a um passo, afastamento da verossimilhança e alguns métodos gráficospt_BR
dc.language.isoporpt_BR
dc.publisherUniversidade Federal de Pernambucopt_BR
dc.rightsopenAccesspt_BR
dc.rightsAttribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Brazil*
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/br/*
dc.subjectSimétricopt_BR
dc.subjectRegressãopt_BR
dc.titleDiagnóstico em modelos simétricos de regressãopt_BR
dc.typemasterThesispt_BR
Aparece en las colecciones: Dissertações de Mestrado - Estatística

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