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https://repositorio.ufpe.br/handle/123456789/6489
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Título : | Diagnóstico em modelos simétricos de regressão |
Autor : | Hernando Vanegas Penagos, Luis |
Palabras clave : | Simétrico; Regressão |
Fecha de publicación : | 2005 |
Editorial : | Universidade Federal de Pernambuco |
Citación : | Hernando Vanegas Penagos, Luis; . Diagnóstico em modelos simétricos de regressão. 2005. Dissertação (Mestrado). Programa de Pós-Graduação em Estatística, Universidade Federal de Pernambuco, Recife, 2005. |
Resumen : | A modelagem estatística sob a suposição de erros normalmente distribuídos pode ser altamente influenciada por observações extremas, o que motiva o estudo de técnicas de regressão mais robustas frente a este tipo de observações. Como uma alternativa, podem ser considerados modelos em que a distribuição assumida para o erro pertence à classe simétrica. Estes modelos são chamados de modelos simétricos de regressão. Neste trabalho, estudamos analiticamente e através de simulações de Monte Carlo as propriedades estatísticas de dois tipos de resíduos propostos: componente desvio e quantal para os modelos simétricos de regressão com componentes sistemáticas não-lineares. Além disso, desenvolvemos métodos de diagnóstico usando o enfoque de influência global. Neste sentido, propomos algumas medidas tais como distância de Cook, estatística W-K, aproximação a um passo, afastamento da verossimilhança e alguns métodos gráficos |
URI : | https://repositorio.ufpe.br/handle/123456789/6489 |
Aparece en las colecciones: | Dissertações de Mestrado - Estatística |
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