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Título : Diagnóstico em modelos simétricos de regressão
Autor : Hernando Vanegas Penagos, Luis
Palabras clave : Simétrico; Regressão
Fecha de publicación : 2005
Editorial : Universidade Federal de Pernambuco
Citación : Hernando Vanegas Penagos, Luis; . Diagnóstico em modelos simétricos de regressão. 2005. Dissertação (Mestrado). Programa de Pós-Graduação em Estatística, Universidade Federal de Pernambuco, Recife, 2005.
Resumen : A modelagem estatística sob a suposição de erros normalmente distribuídos pode ser altamente influenciada por observações extremas, o que motiva o estudo de técnicas de regressão mais robustas frente a este tipo de observações. Como uma alternativa, podem ser considerados modelos em que a distribuição assumida para o erro pertence à classe simétrica. Estes modelos são chamados de modelos simétricos de regressão. Neste trabalho, estudamos analiticamente e através de simulações de Monte Carlo as propriedades estatísticas de dois tipos de resíduos propostos: componente desvio e quantal para os modelos simétricos de regressão com componentes sistemáticas não-lineares. Além disso, desenvolvemos métodos de diagnóstico usando o enfoque de influência global. Neste sentido, propomos algumas medidas tais como distância de Cook, estatística W-K, aproximação a um passo, afastamento da verossimilhança e alguns métodos gráficos
URI : https://repositorio.ufpe.br/handle/123456789/6489
Aparece en las colecciones: Dissertações de Mestrado - Estatística

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